仪器编号: 20141051 |
仪器型号: Titan G2 60-300 |
购置日期: 2014-04-14 |
单价(万元): 1092.179 |
厂家: FEI |
技术指标: 点分辨率:≤0.08nm,信息分辨率:≤0.08nm,高稳定性肖特基场发射电子枪S-FEG,束流:≥0.6nA @ 1nm,电子枪能量分辨率:≤ 0.7eV,束斑漂移:≤ 0.5nm/min,具有洛伦茨透镜,可以观察磁性样品,会聚束电子衍射:最大会聚角:≥100mrad,最大衍射角:≥26°,标准低背景双倾样品台最大倾斜角度:± 40°,样品移动范围 :X,Y: ± 1 mm;Z : ±0.375 mm,扫描透射(STEM):分辨率: ?0.136nm,探头:高角环形暗场探头(HADDF) |
存放位置:340栋115球差矫正透射电镜 |
保管单位:校级分析测试中心 |
管理负责人:刘吉梓 |
共享: 预约仪器 |
预约须知: 每周四对外全部开放,其余时间课题组内部开放 |
收费参考标准: |
主要功能: 主要用于材料的超高分辨形貌观察和微区的晶体结构、成份分析,系统由电子光学系统、高压系统、真空系统等部分组成。 |
仪器设备开放时间: 详情请查看仪器预约表 |